|
|
Samočinné testování mikrokontrolerů
Denk, Filip ; Šimek, Václav (oponent) ; Strnadel, Josef (vedoucí práce)
Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb.
|
|
|
Selftest pro automatický průmyslový tester
Kyselý, Tomáš ; Dušek, Martin (oponent) ; Povalač, Aleš (vedoucí práce)
Tato práce pojednává o testovací stanici ve společnosti NXP Semiconductors, pobočkou v Rožnově pod Radhoštěm. Popisuje nejprve samotnou testovací stanici a její možnosti při testování softwarových knihoven. Poté popisuje automatický selftest této stanice a jeho dílčí kroky. Práce má sloužit také jako dokumentace k selftestu pro vnitřní účely firmy.
|
|
|
Samočinné testování mikrokontrolerů
Denk, Filip ; Šimek, Václav (oponent) ; Strnadel, Josef (vedoucí práce)
Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb.
|
|
|
Pohled žáka staršího školního věku na osobnost učitele
Jarošová, Veronika ; Krykorková, Hana (vedoucí práce) ; Koťa, Jaroslav (oponent)
Období staršího školního věku je z hlediska vývojové psychologie velmi výrazné. Charakteristiky, které se u žáka objevují, vyžadují adekvátní reakce, přístup a psychologické znalosti učitele. Žáci mají určité představy o osobnosti učitele, které však nemusejí korespondovat s požadavky kladenými na učitele ze strany odborníků. Předkládaná práce vymezuje faktory, u kterých lze předpokládat, že ovlivňují pohled žáka staršího školního věku na osobnost učitele. Existují doporučení, jak řešit nežádoucí faktory a zároveň tvořit či zdokonalovat faktory pozitivní, jež by jistily potřebný kladný vztah žáka staršího školního věku k učiteli.
|
|
|
Selftest pro automatický průmyslový tester
Kyselý, Tomáš ; Dušek, Martin (oponent) ; Povalač, Aleš (vedoucí práce)
Tato práce pojednává o testovací stanici ve společnosti NXP Semiconductors, pobočkou v Rožnově pod Radhoštěm. Popisuje nejprve samotnou testovací stanici a její možnosti při testování softwarových knihoven. Poté popisuje automatický selftest této stanice a jeho dílčí kroky. Práce má sloužit také jako dokumentace k selftestu pro vnitřní účely firmy.
|
host ::
RSS.